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多颗模组两层测试治具简介


多颗模组两层测试治具,主要用于多颗模组的影像、烧录、标定等测试。
1.一个治具,同时放两颗或者多颗模组测试,能有效提高测试效率,节约治具成本;
2.每个模组均单独限位,针盘做成独立结构,保证测试稳定性;
3.模组限位部分做成镶块结构,方便更换维护;
4.针座部分采用浮动结构,能有效地保护探针,从而延长探针使用寿命;
5.治具包含开盖检测功能,能有效防止撞机,避免对治具及机台造成损伤;
6.根据不同机台的测试要求,治具可分为LENS朝上或者朝下测试两种结构。

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